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安捷倫和康思德聯(lián)手研發(fā)晶片級測量解決方案

發(fā)布時間:2014-06-30 作者: 來源:科技日報 瀏覽:2396
      安捷倫科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布雙方結(jié)成戰(zhàn)略合作關(guān)系,旨在為客戶提供經(jīng)過全面配置和驗證的射頻測量解決方案,該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導(dǎo)體測量,而且還能提供有保障的配置、安裝及支持。
      據(jù)介紹,最新的晶片級測量解決方案整合了康思德的晶圓探針臺、探針和校準(zhǔn)工具以及安捷倫測試儀器和測量分析軟件,將會為半導(dǎo)體測試帶來深遠(yuǎn)影響。每種解決方案配置在出廠前均已通過預(yù)先驗證,以滿足客戶的特定應(yīng)用需求,在康思德解決方案專家安裝完畢后,可根據(jù)之前商定的驗收標(biāo)準(zhǔn)再次驗證配置。安捷倫或康思德承諾免費(fèi)填補(bǔ)解決方案缺失的任何部件,以確保客戶享受有保障的配置。另外,每個晶片級測量解決方案均配有完善的支持套件,并且允許客戶聯(lián)系經(jīng)驗豐富的區(qū)域解決方案專家以索取晶圓上測試測量技巧。
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