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美科學家結合X射線和顯微鏡進行精細實驗

發(fā)布時間:2013-09-06 作者: 來源:科技部 瀏覽:902

      美國能源部阿貢國家實驗室的科學家若斯近日宣布:他們已經通過同時使用X射線分析和高精度顯微鏡,能夠同時判定物質接近原子級的物理結構和化學構成。這項研究為運用于能源的各種材料開辟了新路徑。
      掃描隧道顯微鏡(STM)能讓研究人員在原子級看到更大范圍的不同材料。但是只能大概看見原子在哪里,并不能提供化學或者磁性方面的信息。若斯最近的一項研究彌補了這一缺陷。他帶領的團隊綜合了阿貢實驗室的高級光子源、納米材料中心和電子顯微鏡中心所提供的資源,發(fā)明了X射線同步加速器掃描隧道顯微鏡技術。該技術將X射線同步加速器(由高級光子源提供)同STM結合在一起。該團隊曾用一個小銅樣品檢測該技術的局限和優(yōu)勢。只用加速器達不到STM能檢測到空間分辨率,但是把兩者結合起來就能得到研究者期望的數據。
      若斯堅信這項技術能幫助科學家和工程師開發(fā)新一代的催化劑、納米磁系統(tǒng)和太陽能電池。對于催化劑,有這種程度的分辨率可以根據個別催化劑顯示活性部位在哪里,而且能準確地看到這種反應是怎樣發(fā)生的。對于太陽能電池,能得到目前降低它效率的表面雜質的更好圖像。
      若斯預測這項新技術將最終能夠研究各個原子的電子化學和磁性能。
      基于這項研究的報告《X射線同步加速器掃描隧道顯微鏡:同步輻射誘導銅遠近場轉換的指紋圖譜》刊登在《先進功能材料》上。 

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