在中科院科研裝備“擇優(yōu)支持”項(xiàng)目及力學(xué)所“十五裝備”項(xiàng)目的支持下，國(guó)家微重力實(shí)驗(yàn)室建起“納米檢測(cè)光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)”。系統(tǒng)由具有國(guó)際領(lǐng)先水平的光譜橢偏儀(Spec Ellipsometer)和近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)組成，前者以相敏和光譜的優(yōu)勢(shì)為二維納米材料、多層納米介質(zhì)和生物分子膜層的定量光譜分析提供了高靈敏和高精度的檢測(cè)手段；后者的光探針提供了表征納尺度微觀(guān)光學(xué)性質(zhì)和無(wú)擾動(dòng)探測(cè)柔性生物分子及其相互作用的能力，兩者的有機(jī)結(jié)合提供了一種跨尺度光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)。

      光譜橢偏儀(Spec Ellipsometer)設(shè)備是一種高精度的薄膜和表面測(cè)量設(shè)備，被美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局作為確立材料參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，膜厚測(cè)量精度可達(dá)原子層量級(jí)，材料介電系數(shù)的精度達(dá)10-3。設(shè)備完成安裝調(diào)試之后，已經(jīng)在蛋白質(zhì)芯片標(biāo)定和超薄膜測(cè)量這類(lèi)國(guó)際性難題中發(fā)揮了重要作用，相關(guān)結(jié)果在國(guó)際重要刊物Applied Optics，Spectroscopy等發(fā)表。

      近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)是一種新型的納米尺度光學(xué)表征手段，突破了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的衍射分辨率限制，是掃描探針顯微鏡家族中的重要一員。該設(shè)備的反射模式、透射模式、剪切力模式等工作模式運(yùn)行良好，性能指標(biāo)也在實(shí)驗(yàn)中得到了驗(yàn)證。該系統(tǒng)已經(jīng)在生物芯片微觀(guān)表征，新型納米表面材料研究等方面顯示出獨(dú)特的作用，獲得高致病禽流感H5N1病毒和磷脂雙層膜在芯片表面分布的清晰近場(chǎng)圖像，相應(yīng)結(jié)果發(fā)表在第4屆國(guó)際光譜橢偏大會(huì)上。

      為充分發(fā)揮該設(shè)備的使用效率，帶動(dòng)相關(guān)學(xué)科領(lǐng)域的發(fā)展，積極推進(jìn)設(shè)備的開(kāi)放共享，近年來(lái)還為北京大學(xué)工學(xué)院、北京有色金屬研究總院、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院等單位提供一系列科研測(cè)試服務(wù)，得到了滿(mǎn)意的結(jié)果。

      在未來(lái)的工作中，項(xiàng)目組將繼續(xù)發(fā)揮設(shè)備的性能優(yōu)勢(shì)，為實(shí)驗(yàn)研究及理論探索提供保障，期待取得更多具有國(guó)際水準(zhǔn)的成果。