Cascade Microtech宣布推出具備高效能測量能力的M150測試平臺，該平臺可針對半導體晶圓、IC、PCB、MEMS與生物科學等組件的單一測量，提供從DC到220GHz的廣泛可供應性與可組態(tài)性、彈性化與多元化的150mm組件測試。 M150測試平臺并可針對客戶的不同應用快速轉換，或經(jīng)由客戶重新組態(tài)，并透過可替換標準組件與附件最佳化來滿足特定測量需求，以大幅節(jié)省因個別應用而需購置新測量平臺的成本。M150并能協(xié)助客戶解決功耗、操作頻率、訊號隔離、訊號完整性與通路頻寬等組件問題。 Cascade Microtech的新款M150測試平臺可用于半導體晶圓廠、生產(chǎn)部門、故障分析、制程工程及組件塑型；進行III-V合成半導體制程特征化，如砷化鎵、硅鍺，以及針對射頻的磷化銦、微波及毫米波應用；PCB板上的訊號完整性及高速互聯(lián)問題；或針對如實驗室芯片、微流體、有機晶體管、polytec神經(jīng)元、MEMS組件及其它生物結構等應用進行精確定位、導航及分析檢視；以及應用于全球各大學研究中心進行半導體組件與處理器之研發(fā)。 M150測試平臺完全兼容于Cascade Microtech L系列的Microfluidics度量系統(tǒng)，并被運用為針對所有L系列的生命科學應用平臺。M150測試平臺并提供兩種采購方式，藉由針對DC、RF、故障分析、PCB測試或毫米波封裝，選擇特定應用的預先組態(tài)封裝之一，以及針對客戶應用建立的客制化系統(tǒng)。