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GE檢測控制技術參展2012第十七屆中國國際質(zhì)量控制與測試工業(yè)設備展覽會

發(fā)布時間:2012-10-17 作者: 來源:GE檢測控制技術 瀏覽:602334

       2012第十七屆中國國際質(zhì)量控制與測試工業(yè)設備展覽會將于2012年10月31日~2012年11月2日在上海世博展覽館隆重召開。GE檢測控制技術將在本屆展會上(422展位),展示GE無損檢測全領域的優(yōu)秀產(chǎn)品和領先技術。

      在此次展覽會上,GE檢測控制技術將展出包括Everest VIT、Hocking、Krautkramer、Nutronik、Phoenix在內(nèi)的超聲、射線、渦流、內(nèi)窺鏡以及膠片的全系列產(chǎn)品線的著名品牌產(chǎn)品。這些產(chǎn)品以其領先的高科技技術為無損檢測客戶提供更安全、更智能、更高效的無損探傷解決方案。

      在展會期間,GE檢測控制技術通過產(chǎn)品介紹、樣品展示和觀眾互動交流等諸多方式,充分為與會者展示GE檢測控制技術相關產(chǎn)品應用和先進技術。屆時,我們的工程師和產(chǎn)品經(jīng)理將為您作現(xiàn)場講解和演示進行現(xiàn)場交流。

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