安捷倫科技公司日前宣布，推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測試功能組成的套件，其中包括新的NPM測量技術(shù)。

      這一測試功能包括NPM測量技術(shù)。用戶可以檢測連接器上電源管腳和接地管腳中的開路。

      安捷倫VTEP v2.0是為幫助制造商檢測這些關(guān)鍵缺陷而設(shè)計(jì)的，功能測試和產(chǎn)品發(fā)售中可能檢測不到這些缺陷，在后期可能會給制造商帶來更高的成本。

      此外，通過VTEP v2.0，用戶可以獲原有得VTEP技術(shù)的優(yōu)勢，如更高的靈敏度，更有效地降低噪聲；同時(shí)獲得iVTEP的優(yōu)勢，該技術(shù)面向采用最小引線框或不帶引線框的超小型集成電路封裝。iVTEP還適用于帶有散熱片的設(shè)備及帶有附加散熱器的器件。

      VTEP v2.0采用與原有VTEP相同的硬件，因此不要求進(jìn)行硬件升級。