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MTC2年會暨國家計量技術規(guī)范審定會成功舉辦

發(fā)布時間:2020-11-25 作者:孫雙花 來源: 瀏覽:2351
11月17-18日,2019-2020年度全國幾何量長度計量技術委員會(MTC2)年會暨國家計量技術規(guī)范審定會在福州召開。本次會議由中國計量科學研究院(以下簡稱“中國計量院”)主辦、福建省計量科學研究院協(xié)辦。來自全國主要省市計量技術機構、科研院所、儀器制造企業(yè)等五十余名委員和代表出席會議。

會議首先對《幾何量計量技術規(guī)范體系構架》進行了公開征求意見及評審,參會委員對體系構架的結(jié)構、內(nèi)容等展開討論并提出意見和建議,修改完善了體系構架報審稿。
會上宣讀了“關于成立納米幾何量計量工作組(MTC2/WG2)”的通知,秘書處設在中國計量院;審定通過了《微納米幾何量計量器具溯源體系》《透射電子顯微鏡》《激光共聚焦顯微鏡校準規(guī)范》3項新制定的納米計量技術規(guī)范,及《步距規(guī)校準規(guī)范》《角度塊檢定規(guī)程》2項修訂的規(guī)程規(guī)范。

最后,全國幾何量長度計量技術委員會秘書長、中國計量院副研究員王為農(nóng)對本屆委員會的工作進行總結(jié),并對下屆委員會的工作提出指導性建議。

地方動態(tài)資訊投稿聯(lián)系  吳編輯:13520045771(微信),(010)64224980

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