近日，日本物質(zhì)材料研究機(jī)構(gòu)的研究人員開發(fā)出一種新型電子源，有望使電子顯微鏡的識別和測定能力得到飛躍式提高。

　　據(jù)介紹，開發(fā)出這種新型電子源的是日本物質(zhì)材料機(jī)構(gòu)的兩名華人科學(xué)家，一次元材料組組長唐捷和研究員張涵(音譯)。為了大幅度提高電子顯微鏡的性能，他們重點(diǎn)進(jìn)行了新型電子源的開發(fā)，同時在電子放射方法方面也進(jìn)行了創(chuàng)新。

　　目前，電子顯微鏡普遍使用金屬元素鎢作為電子源，而化合物六硼化鑭(LaB6)作為電子源雖然在性能上超過鎢，但其硬度超過鎢一倍以上，如果沒有合適的加工方法很難實(shí)現(xiàn)應(yīng)用。此次研究人員使用了一種叫化學(xué)氣相堆積法的方法，首先制成了單結(jié)晶的六硼化鑭納米線，然后使用電界蒸發(fā)的方式除去了納米線表面的不純物質(zhì)，從而成功開發(fā)出了新型電子源。與以往通過高溫加熱熱源，使之放射出熱電子的方式相比，新型電子源采用的是以極高的亮度放射出超細(xì)電子束的電界放射方式。

　　在電子顯微鏡技術(shù)領(lǐng)域，日本過去一直領(lǐng)先世界，透過式電子顯微鏡和掃描式電子顯微鏡也一直是日本重要的技術(shù)出口產(chǎn)品，但目前在該領(lǐng)域日本已經(jīng)被美國和德國超越。研究人員稱，前段時間日本已經(jīng)開發(fā)出新型高性能鏡頭，如果配上此次開發(fā)成功的六硼化鑭單結(jié)晶納米線電界放射型電子源，將有望使日本重新奪回透過式電子顯微鏡世界領(lǐng)先地位。