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McCrometer推出Wafer-Cone流量計

發(fā)布時間:2008-05-15 作者: 來源: 瀏覽:737

      生產(chǎn)現(xiàn)場、過程控制與工廠工程師人員發(fā)現(xiàn)McCrometer公司推出高度靈活的Wafer-Cone流量計,該產(chǎn)品具有模塊化設(shè)計功能特點,使其很容易且經(jīng)濟(jì)的根據(jù)動態(tài)流體狀況來替換相應(yīng)流量計元件。

      這種獨特的Wafer-Cone流量計依靠具有內(nèi)置流體狀況監(jiān)測的差分壓力技術(shù),可用來獲得±0.5%的精度,且重復(fù)測試結(jié)果達(dá)到±0.1%的誤差。該款產(chǎn)品設(shè)計上適用于液體或氣體的監(jiān)測,且監(jiān)測占空間尺寸為0.5到6英寸之間,這使其對于包括從天然氣氣井、小型過程生產(chǎn)線到許多工業(yè)基礎(chǔ)設(shè)施的各種領(lǐng)域來說是完美。

      通過采用自調(diào)整流動狀況,該Wafer-Cone流量計真正的節(jié)省空間。它消除了其它類似DP技術(shù)測試中需要大量流量直管的需要,比如銳孔板和文丘里管等。這能安裝到管道系統(tǒng)的幾乎任何部位,且很容易適用于現(xiàn)有的管道布置改造,并為現(xiàn)場安裝帶來很好的靈活性,進(jìn)而節(jié)省成本。

 

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