日本產(chǎn)業(yè)技術綜合研究所（簡稱產(chǎn)綜研）為高水平解決生產(chǎn)一線出現(xiàn)的測試及診斷技術問題，2007年8月1日在產(chǎn)綜研九州中心設立了“生產(chǎn)測試技術研究中心”。中心將綜合產(chǎn)業(yè)界的一線需求和產(chǎn)綜研的研究課題，來解決問題及推進技術革新。 
     
      中心設立于生產(chǎn)一線大量集中的九州地區(qū)，旨在向生產(chǎn)一線及時提供新測試及診斷技術，以提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率、解決產(chǎn)品質(zhì)量問題，確保生產(chǎn)安全和保護環(huán)境。此外，作為初次嘗試，產(chǎn)綜研將與熟悉企業(yè)生產(chǎn)一線狀況的Mystar合作，根據(jù)產(chǎn)業(yè)界的測試需求來推進研究開發(fā)。 
    
      為了向企業(yè)提供支持，以解決生產(chǎn)一線所面臨的測試及診斷難題，該研究中心將以多數(shù)企業(yè)共同面對的難題為對象，來開發(fā)新的測試及診斷技術。此外，將與民營企業(yè)生產(chǎn)一線測試專業(yè)公司Mystar合作，以此前積累起來的研究成果和技術基礎信息為基礎，來解決生產(chǎn)一線出現(xiàn)的個別測試難題，并通過積累這些解決案例，來構建與測試分析技術的評測基準有關的數(shù)據(jù)庫。 
    
      該數(shù)據(jù)庫除含有測試及診斷技術、傳感器以及測試設備等的信息外，還含有實際使用這些設備及技術的評測結果等信息。這些信息作為未來用于迅速解決個別難題的信息基礎，將對生產(chǎn)一線生產(chǎn)效率的提高做出貢獻。此外，計劃通過以該研究中心和Mystar為中心的產(chǎn)學官合作，來開發(fā)整合新的測試及診斷技術，從而構建大型結構物的一體化安全管理網(wǎng)絡系統(tǒng)、確立半導體制造與電子零部件制造的新檢查方法。另外，希望通過這些研究，對面向產(chǎn)品認證系統(tǒng)升級的新國際規(guī)格的制定做出貢獻。同時，面向真正支撐日本產(chǎn)品制造產(chǎn)業(yè)的中小企業(yè)，開發(fā)出他們需要的生產(chǎn)測試工具。