精工電子納米科技有限公司（SII NanoTechnology Inc. ）宣布，其在美國(guó)的子公司與Radiant Detector Technologies, LLC達(dá)成一項(xiàng)資產(chǎn)收購(gòu)協(xié)議，精工電子納米科技有限公司成功收購(gòu)Radiant的X射線探測(cè)器業(yè)務(wù)。SII NanoTechnology USA 將獲得Radiant公司與X射線探測(cè)器業(yè)務(wù)相關(guān)的所有知識(shí)產(chǎn)權(quán)、設(shè)備以及人力資源。 精工電子納米科技有限公司希望通過(guò)此次收購(gòu)能夠進(jìn)一步增強(qiáng)在熒光X射線元素分析方面的技術(shù)力量，加快新產(chǎn)品開發(fā)，增強(qiáng)公司產(chǎn)品在世界范圍內(nèi)的競(jìng)爭(zhēng)力，擴(kuò)展在環(huán)境分析市場(chǎng)的銷售份額。1970年，精工電子納米科技有限公司開始涉足熒光X射線涂層測(cè)厚領(lǐng)域，在隨后35年的發(fā)展歷程中，該公司在熒光X射線分析和測(cè)厚方面的全球業(yè)務(wù)取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步，并持有多項(xiàng)技術(shù)專利。