吉時(shí)利儀器公司 （NYSE:KEI）是為不斷增長(zhǎng)的測(cè)量需求提供解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，今日發(fā)布了美國(guó)AMD公司（NYSE：AMD）選用吉時(shí)利（Keithley）公司制造的S680型直流/射頻 (DC/RF)半導(dǎo)體 參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，以支持AMD公司位于德國(guó)德累斯頓市技術(shù)發(fā)展水平最高的300mm Fab 36公司的先進(jìn)邏輯芯片的全部生產(chǎn)。 S680直流/射頻 (DC/RF) DC/RF系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)包括先進(jìn)的測(cè)量能力、更較低的所有權(quán)保有成本、較高很高的信息通過(guò)產(chǎn)量以及較強(qiáng)有力的本地區(qū)服務(wù)和技術(shù)支持。 “AMD公司選用吉時(shí)利S680型參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)表明說(shuō)明該系統(tǒng)已成功成為在半導(dǎo)體芯片大批量制造時(shí)過(guò)程中進(jìn)行過(guò)程控制的重要設(shè)備，提供晶圓圓片級(jí)電氣測(cè)量可選用的參數(shù)測(cè)試儀良好選擇?！奔獣r(shí)利公司商業(yè)務(wù)發(fā)展部副總經(jīng)理總裁Mark Hoersten先生說(shuō)，“無(wú)論是高性能邏輯電路制造商，還是高性能模擬集成電路制造商，都逐漸轉(zhuǎn)而要求吉時(shí)利公司為他們正在其最先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行的下一代半導(dǎo)體工藝提供應(yīng)電氣參數(shù)測(cè)試儀機(jī)臺(tái)。 這些工藝包括目前正在部署的90nm工藝和65nm工藝，連同他們正在使用的工藝，這將有助于開發(fā)行業(yè)內(nèi)最尖端的45nm工藝?！? 吉時(shí)利公司的S680型直流/射頻 (DC/RF)參數(shù) DC/RF測(cè)試系統(tǒng)儀于2003年首次推向市場(chǎng)，專為無(wú)線通訊和高速數(shù)字器件的晶圓圓片級(jí)參數(shù)測(cè)試而設(shè)計(jì)。 該測(cè)試機(jī)臺(tái)儀通過(guò)將兩個(gè)決定關(guān)鍵性的測(cè)試功能――DC和RF測(cè)試功能綜合到一個(gè)測(cè)試序列中，集成到單個(gè)系統(tǒng)中從而大大提高了總的信息通過(guò)測(cè)試產(chǎn)量，因?yàn)镈C和RF測(cè)試功能可綜合到相同的測(cè)試序列中。 該集成方法刪去排除了較長(zhǎng)的校準(zhǔn)定標(biāo)和測(cè)試時(shí)間，也無(wú)需單獨(dú)、昂貴的且僅用于RF的探針臺(tái)而這在獨(dú)立的RF測(cè)試解決方案中則是具有代表性的一段時(shí)間具有代表性。 該方法也無(wú)需獨(dú)立的、而昂貴的、且僅RF測(cè)試才使用的且僅用于RF的探測(cè)器。 另外，再加上此外，吉時(shí)利公司半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)獨(dú)有的并行測(cè)試等能力也可使得IC制造商能將其測(cè)試成本降到最低。