日本三井公司下屬的研發(fā)子部門Bussan納米科技研究院日前聯(lián)合安立公司(anritsu)推出了雙方合作研制的一款用于對高速光器件和元件進(jìn)行測試測量的新一代色散分析儀，并在OFC2005上展出了首個原型產(chǎn)品。 據(jù)了解，該原型是世界上第一個能對色度色散進(jìn)行實(shí)時測量的平臺。色度色散能使光纖傳輸中光脈沖產(chǎn)生扭曲，導(dǎo)致鄰近光脈沖的串?dāng)_，增加比特誤碼率。當(dāng)傳輸速度增加時，色度色散的影響就變得愈發(fā)明顯，并與比特速率成平方關(guān)系。舉例而言，當(dāng)比特速率從10Gbps增加到40Gbps的時候，比特誤碼率將增加16倍。因此，解決色度色散問題就成為了高速光傳輸領(lǐng)域的必要研究課題，而研制出描繪這種色度色散的儀器則是解決這一問題的第一步。 為了描述光器件和元件的色度色散，Bussan和安立采用了干涉測量法測量群延遲，在傳統(tǒng)的基于光譜干涉儀的設(shè)備中，色度色散的測量一般要花費(fèi)10秒鐘的時間，而在原型中則采用一種新穎的相位取消（phase cancellation）方法，該方法是基于專門為測量群延遲而研制的自跟蹤干涉測量技術(shù)（STINGRAYTM），STINGRAYTM技術(shù)采用兩個激光器，一個用于探測，一個用于相位跟蹤，該原型可測量工作波長在1530-1560nm (C-band)的器件，測試激光器波長的掃描速度是一秒掃描30nm帶寬。而跟蹤激光器也同時發(fā)射探測光束，將相位波動減少到0.04，是傳統(tǒng)設(shè)備的1/30，大大縮短了探測時間。